GIN精展平面平晶55155/GOF
品牌：GIN(精展)
型號：55155
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平晶是利用光波干涉現象測量平行度及平面度誤差的，故其測量方法稱為平晶干涉法，也稱技術光波干涉法。通過平面平晶的干涉條紋圖案可對測量表面的平面度進行檢測。呈圓環形，其中一個表面精確拋光，可用于檢測量塊、壓板基準面、千分尺測量面或其它任何高反射率的平坦表面的平面度。
| 訂購編號 Order No. | 規格明細 | 直徑 | 厚度 | 平行度 | 平面度 |
| 55155-01 | 單平面水晶 | φ45 | 15 | 一 | 0.1μm |
| 55155-02 | 雙平面水晶 | φ45 | 15 | 一 | 0.1μm |
| 55155-03 | 單平面水晶 | φ45 | 15 | 一 | 0.03μm |
| 55155-04 | 雙平面水晶 | φ45 | 15 | 一 | 0.03μm |
| 55155-05 | 單平面水晶 | φ50 | 20 | 一 | 0.03μm |
| 55155-06 | 雙平面水晶 | φ50 | 20 | 一 | 0.03μm |
| 55155-07 | 單平面水晶 | φ60 | 20 | 一 | 0.03μm |
| 55155-08 | 雙平面水晶 | φ60 | 20 | 一 | 0.03μm |
| 55155-09 | 單平面水晶 | φ75 | 20 | 一 | 0.03μm |
| 55155-10 | 雙平面水晶 | φ75 | 20 | 一 | 0.03μm |
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型號：DN40AD-CTH20/CTH25
